半導(dǎo)體管特性圖示儀 型號(hào):QT-2B
* QT-2B半導(dǎo)體管特性圖示儀可根據(jù)需要測(cè)量半導(dǎo)體二**管、三**管的低頻直流參數(shù),**大集電**電流可達(dá)50A,基本滿足功率500W以下的半導(dǎo)體管的測(cè)試。
* 本儀器還附有高壓的測(cè)試裝置,可對(duì)5000V以下的半導(dǎo)體管進(jìn)行擊穿電壓及反向漏電流測(cè)試,其測(cè)試電流**高靈敏度達(dá)到0.5uA/度。
* 本儀器所提供的基**階梯信號(hào)還具有脈沖階梯輸出,因此可擴(kuò)大測(cè)量范圍及對(duì)二次擊穿特性的測(cè)量。
* 本儀器帶階梯偏置電壓(△VB), -6V~+6V連續(xù)可調(diào)。特別適宜大功率VMOS管測(cè)試。
1. 集電**電流偏轉(zhuǎn)系數(shù)
a) 集電**電流范圍(Ic): 1μA/度~5A/度。按1、2、5進(jìn)制分21檔級(jí),各檔誤差不大于3%。
b) 二**管電流范圍(ID) :1μA/度~500μA/度。1、2、5進(jìn)制分9檔,各檔誤差不大于3%。
c) 集電**電流及二**管電流倍率×0.5,誤差不大于10%。
d) 基**電流或基**源電壓0.1V/度,誤差不大于3%。
2. 集電**電壓偏轉(zhuǎn)系數(shù)
a) 集電**電壓范圍(Uc): 10mV/度~50V/度。按1、2、5進(jìn)制分21檔級(jí),各檔誤差不大于3%。
b) 二**管電壓范圍(UD): 100V/度~500V/度。按1、2、5進(jìn)制分3檔級(jí),各檔誤差不大于10%。
c) 基**電壓范圍(UBE):10mV/度~1V/度按1、2、5進(jìn)制分7檔級(jí),各檔誤差不大于3%。
d) 基**電流或基**源電壓::0.05V/度,誤差不大于3%。
3. 基**階梯信號(hào)
a) 階梯電流范圍(IB): 10uA/度~200mA/度。按1、2、5進(jìn)制分17檔級(jí),各檔誤差不大于5%。
b) 階梯電壓范圍(UB): 50mV/度~1V/度。按1、2、5進(jìn)制分5檔級(jí),各檔誤差不大于5%。
c) 串聯(lián)電阻:0Ω、10KΩ、100KΩ,各檔誤差不大于10%。
d) 階梯波形:分正常(100%)及脈沖二檔。脈沖階梯占空比調(diào)節(jié)范圍為10~40%。
e) 每簇級(jí)數(shù):0~10級(jí),連續(xù)可調(diào)。
f) 階梯偏置電壓(△VB):-6V~+6V,連續(xù)可調(diào)。
g) 階梯作用:分重復(fù)、關(guān)、單次三檔級(jí)。
h) 階梯輸入:分正常、零電流、零電壓三檔級(jí)。
i) 階梯**性:分正、負(fù)二檔。
4. 集電**掃描電壓
a) 輸出電壓與檔級(jí): 0~10V 正或負(fù)連續(xù)可調(diào)
0~50V 正或負(fù)連續(xù)可調(diào)
0~50V 正或負(fù)連續(xù)可調(diào)
0~100V 正或負(fù)連續(xù)可調(diào)
0~500V 正或負(fù)連續(xù)可調(diào)
b) 輸出電流容量: 0~10V 50A(脈沖階梯工作狀態(tài)時(shí))
0~10V 20A(平均值)
0~50V 10A(平均值)
0~100V 5A (平均值)
0~500V 0.5A(平均值)
c) 功耗限制電阻: 0~500KΩ 按1、2、5進(jìn)制分20檔級(jí),各檔誤差不大于10%。
d) 整流方式: 全波
e) 輸出**性: +,-
f) 集電**容性電流; 平衡后不超過2uA(10V檔)
g) 集電**漏電流; 平衡后不超過2uA(10V檔)
5. 二**管測(cè)試裝置
a) 輸出電壓: 0~5000V 正向連續(xù)可調(diào)
b) 輸出電流容量: **大為5mA
c) 整流方式: 半波
6. 其他
a) 適配器
高壓測(cè)試座、三**管測(cè)試座、 功率三**管測(cè)試座
b) 重量 約30kg。
c) 外形尺寸
300mm×408mm×520mm(W×H×D)。
d) 功耗: 非測(cè)試狀態(tài)時(shí): 約80VA;
**大功率時(shí): 約300VA。
e) 輸入電壓: 220V±10%;
f) 頻率: 50HZ±5%。
g) 示波管: 15SJ118-DC 有效工作面8×10cm。
h) 電磁兼容性
傳導(dǎo)干擾應(yīng)符合GB/T 6833.9中第1章的要求。
輻射干擾應(yīng)符合GB/T 6833.10中第1章的要求。
環(huán)境應(yīng)符合GB/T 6587.1中Ⅱ級(jí)儀器的規(guī)定,運(yùn)輸試驗(yàn)按2級(jí)